雷科的毫米波射頻測試專利,通過小型化的結構設計,使被測物體不僅拆裝方便,而且使被測物體輻射面的幾何中心與旋轉中心接近重合。不僅減少了射頻測試平臺占用的空空間,實現(xiàn)了小型化,而且提高了效率和精度,使測試更加靈活。
北京理工大學雷科電子信息技術有限公司(雷科理工大學)憑借在雷達上的優(yōu)異表現(xiàn),于18年正式加入百度Apollo硬件開發(fā)平臺。不過,為了滿足整個雷達的測試,雷科科技也在毫米波射頻領域不斷深入。
隨著雷達技術的發(fā)展和進步,毫米波雷達已經應用于許多民用行業(yè),如汽車電子、無人機、智能交通、人體安全檢測等。毫米波測試技術是毫米波雷達商業(yè)化和批量生產的關鍵因素。但在測試中,射頻天線和信號處理器的測試內容不同,分系統(tǒng)和整機的測試內容也有較大差異。上述特點導致雷達測試效率低。一旦雷達開始量產,尤其是進入消費電子行業(yè),測試技術的優(yōu)化就成為亟待解決的難題。
現(xiàn)有技術中,射頻天線的測試是在微波暗室中設計的,但暗室中的緊湊場和近場掃描設備效率不高但成本極高,不適合批量測試。整個雷達的測試設計都是在微波暗室的遠場條件下進行的,不僅占用了暗室很大的空空間,而且很難滿足被測物體姿態(tài)高頻調整的要求。
因此,2018年6月21日,北理工雷科申請了名為“一種小型化毫米波射頻測試平臺”的發(fā)明專利(申請?zhí)?201810645203.4),申請人為北理工雷科電子信息技術有限公司
圖1毫米波射頻測試平臺總體結構示意圖
圖1是本專利提出的一種小型毫米波射頻測試平臺,主要包括臺式相機盒3、近端平臺1、遠端平臺2、待測物體4、射頻工具5和安裝在臺式相機盒3內部的射頻收發(fā)模塊6。
近端平臺1和遠端平臺2分別安裝在桌面黑匣子3兩端的內底部,射頻工裝5安裝在近端平臺1上,待測物體4安裝在射頻工裝5上,射頻收發(fā)模塊6安裝在遠端平臺2上,射頻收發(fā)模塊6與待測物體4相對,射頻收發(fā)模塊6向待測物體4發(fā)射或接收毫米波。通過近端平臺1和遠端平臺2,將待測物體4和射頻收發(fā)模塊6布置在半空中,形成更好的無反射電磁環(huán)境。桌面黑匣子3由絕緣外框7和吸波材料組成,可以形成無反射的電磁環(huán)境。
圖2射頻工具安裝示意圖
射頻工具安裝示意圖如圖2所示。射頻工裝5整體從上到下由支架11、橫向平移臺10、方位轉向臺9和近端平臺1組成。
其中,支架11可以為安裝有其自身底板的待測物體4提供正交安裝位置,并實現(xiàn)測試安裝有平板的待測物體4所需的正交姿態(tài)。橫向平移臺10可以通過橫向長孔13中的螺釘與方位操縱臺9固定連接,使得支架11和橫向平移臺10可以一起沿著橫向長孔13橫向移動,直到被測物體4的輻射口面的幾何中心與方位操縱臺9的旋轉中心重合。方位轉向臺9由電機控制,可根據(jù)指令在水平面內自由旋轉,以保證待測物體4與射頻收發(fā)模塊6相對。
因此,射頻工裝可以實現(xiàn)待測物體在固定區(qū)域內的移動,不僅使得待測物體拆裝方便,而且使得待測物體輻射口面的幾何中心與旋轉中心接近重合。不僅減少了射頻測試平臺占用的空空間,實現(xiàn)了小型化,而且提高了效率和精度,使測試更加靈活。
雷科作為院士與高校強強聯(lián)合的企業(yè)之一,堅持創(chuàng)新引領、融合發(fā)展,不斷為用戶提供高質量的產品和服務,也為毫米波雷達的發(fā)展保駕護航。
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